待验证85% 置信事实时间未知
X-Rite i1Pro 3系列支持M0/M1/M2三模式扫描测量，波长分辨率约3.5nm，是照片打印与商业打样领域的事实标准设备
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来源数
85%
置信度
中期 (~90 天)
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-
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相关事实
待验证波长采样间隔≤10nm的分光型设备（如i1Pro3的3.5nm）比色度计更适合测量荧光增白纸和金属色特种纸，因其能捕捉完整光谱曲线而非仅三刺激值68% 相似待验证X-Rite i1Display Pro的低亮度测量下限约0.05cd/m²，可胜任大多数家用投影暗场校准，是投影校色的常见入门专业选择68% 相似待验证M4/3是松下与奥林巴斯共享的开放卡口，两家机身镜头可交叉通用，镜头群覆盖从7mm超广到400mm超长焦，是无反系统中原生镜头最丰富成熟的画幅之一67% 相似待验证专为可穿戴设备设计的传感器（如索尼IMX系列和豪威科技OV系列微型封装版本）可将完整光学模组控制在3毫米以内66% 相似待验证多喷头精准校准需将XYZ三轴偏差控制在0.05mm以内65% 相似
引用此条事实
Stable URI
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curl https://kongchang.com/api/v1/knowledge/claims/242068MCP
get_claim(id=242068)