待验证50% 置信事实精确时间
原子力显微镜（AFM）由Binnig、Quate和Gerber于1986年发明，垂直分辨率可达0.1纳米量级，横向分辨率通常在1至10纳米之间
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来源数
50%
置信度
长期有效
时效性
2026/7/14
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来源
相关事实
待验证AFM探针尖端曲率半径可小至几纳米，通过检测激光在悬臂梁上的反射位移感知微小形变70% 相似待验证沟槽三维形态可通过高精度光学轮廓仪或原子力显微镜（AFM）实测数据建立，分辨率可达纳米级67% 相似待验证含真实光学显微镜的套装应确认放大倍数为光学倍数而非数码放大，有效学习倍数在40x-400x之间，超过标注1200x多为虚标数码变焦58% 相似待验证像素数量不等于画质，传感器物理尺寸（如1英寸、1/1.3英寸）对单像素进光量的影响远大于像素堆料，同为1亿像素，1/1.3英寸底比1/2英寸底暗光画质高出一个档次58% 相似待验证追求真实大底成像，认准1英寸传感器（如索尼IMX989/LYT-900），其单像素尺寸和进光量显著优于1/1.3英寸，弱光画质差距在夜景直出时肉眼可辨57% 相似
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