概念SEE / Single Event Effect / SEU
单粒子效应
宇宙高能粒子轰击半导体器件引发的一类可靠性故障现象，包括单粒子翻转（存储位跳变）和单粒子锁定（器件短路损毁）等，是航天芯片设计的核心挑战之一
时间轴 (近 90 天)
10月20日
高能粒子击中芯片可能引发单粒子翻转或单粒子锁定，对运行大模型的存储和计算单元尤为致命。
待验证50%
10月4日
宇宙辐射会导致芯片发生位翻转和硬件损坏，要求计算硬件具备抗辐射能力
待验证50%
10月4日
单粒子效应（SEE）包括单粒子翻转（SEU）和单粒子锁定（SEL），由高能粒子轰击半导体引发
待验证50%
10月1日
地球轨道上的高能粒子撞击半导体器件时会引发单粒子效应（SEE），可能导致数据位翻转或器件永久损毁
待验证50%