概念SEU / Single Event Upset
单粒子翻转
航天电子领域概念，指高能宇宙射线或太阳质子击中芯片敏感节点导致存储单元或逻辑门状态发生非破坏性翻转的现象，可能引发指令错误或计算结果偏差。
时间轴 (近 90 天)
10月13日
宇宙射线可能导致单粒子翻转，商用GPU不能直接用于太空环境，需要抗辐射设计或冗余校验机制。
待验证50%
10月13日
单粒子翻转指高能宇宙射线或太阳质子击穿芯片敏感节点时，导致存储单元或逻辑门状态发生非破坏性翻转的现象，不会烧毁硬件，但可能使寄存器比特从0变成1，导致指令错误或计算偏差。
待验证50%
10月13日
在轨道辐射环境中，一颗卫星每天可能遭遇数十次单粒子翻转。
待验证50%
10月2日
轨道辐射中的高能粒子会导致单粒子翻转（SEU），使存储单元比特值被随机翻转，引发计算错误或系统崩溃
待验证50%
9月24日
单粒子翻转（SEU）是指高能粒子穿过半导体器件时瞬间改变存储单元的逻辑状态，导致数据位从0变1或从1变0
待验证50%