待验证50% 置信事实精确时间
IAFTRL在存在损坏（corruption）时，遗憾上界为 ~O(C* log T + √(C T)) 量级，其中 C 是损坏总量。
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来源数
50%
置信度
长期有效
时效性
2026/11/3
首次发现
来源
涉及实体
相关事实
待验证Liu等人在强腐败设定下此前给出的最佳上界为 O~(√(d^3 T) + dC)，其主项比无腐败最优速率 O~(d√T) 多一个 √d 因子。60% 相似待验证目前最优的遗憾上界在忽略对数因子的情况下规模为 √(Tγ_T)54% 相似待验证浮点加法不满足结合律，而 bf16 格式尾数只有 7 位，舍入误差在多层乘加中累积，可能导致 argmax 结果翻转。52% 相似待验证2^31是32位有符号整数的边界，当矩阵元素总数M*N达到2^31时，使用int32进行线性索引会发生溢出（回绕为负数），可能导致结果错误或非法内存访问。52% 相似待验证在常见核函数满足的温和条件下，最小化核特定上界可得到重复仿真次数为Θ(log T)。52% 相似
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